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            環競推出最新電子元器件老化測試系統

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            環競推出最新電子元器件老化測試系統

            發布日期:2016-06-02 09:46 來源:http://www.dougmelton.com 點擊:

                近日,上海環競推出了電子元器件老化測試系統,該系統主要用于對探井設備電路板中多種電子元器件的入廠篩選與檢驗,其中包括對電阻、電容、電感等不同規格的常用元器件的檢測,如有機實芯電阻器,SMD功率電感器,塑封繞線片式電感器等。

              作為專業的電子元器件老化測試系統,其可在室溫至180度的任意溫度點下,對電子元器件進行功能、電氣指標的自動化測試,溫度測量精度可達0.1℃。該測試系統由老化板、老化插座、負載板及泛華恒興自主研發的信號路由矩陣組成,模塊化設計保證了系統具有強大的擴展性。系統采用大腔體設計,可接受最多16塊不同的老化板同時進行測試。老化板適配夾具耐溫可達270℃,接口可基于元器件任意定制。同時,該系統還可以任意設置老化溫度點、老化時間與循環測試時間間隔,以滿足不同的測試需求。

              電子元器件老化測試系統擁有豐富儀器和軟件算法功能,并可對8類不同被測件如:電阻(1Ω~10MΩ)、電容(1PF~1F)、電感(10nH~100H)、穩壓器、二極管以及變壓器等多種元器件的測試和評判,測試內容包括LCR、電容耐壓、三端穩壓器紋波、信號變壓器帶寬等項目。

              該系統專注于在線環境仿真與性能檢測,除裝卸件采用手動完成外,測試過程均由系統自動完成,操作簡單,在節約生產時間的同時,降低了設備的總體投入成本。此外,還具有強大的數據存儲、曲線分析與報表生成功能,可得出元器件在老化過程中的特性變化,并對產品缺陷溯源,使操作管理更加人性便捷。


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